Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Limba
engleză
engleză
Carte
Carte broșată
Codul Libristo: 16203913
?
283 b
283 b
569
lei
La editor doar la comandă
Expediem în 17-26 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
Informații despre carte
Titlu complet
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Carte broșată
Data publicării
2017
Număr pagini
259
EAN
9781138075771
ISBN
9781138075771
Codul Libristo
16203913
Editura
Taylor & Francis Ltd
Greutatea
490
Dimensiuni
156 x 234
