Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
Codul Libristo: 06726976
?
695 b
695 b
1.402
lei
șansă 50%
Şanse de a obține acest titlu
Când primesc cărțile?
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
446
lei
Informații despre carte
Titlu complet
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Autor
Sandeep K. Goel
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2013
Număr pagini
259
EAN
9781439829417
ISBN
9781439829417
Codul Libristo
06726976
Editura
Taylor & Francis Inc
Greutatea
598
Dimensiuni
175 x 238 x 22
