Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Limba englezăengleză
Carte Carte broșată
Carte CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. Demkov
Codul Libristo: 02439020
Editura Cambridge University Press, iunie 2014
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Descrierea completă
? points 95 b
190 lei
În depozitul extern Expediem în 14-18 zile

30 de zile pentru retur bunuri


Ar putea de asemenea, să te intereseze


Handbook of Global Agricultural Markets Luc Nijs / Copertă tare
common.buy 632 lei
Séminaire de Probabilités X P.-A. Meyer / Carte broșată
common.buy 343 lei
Red Lily - Complete Anatole France / Carte broșată
common.buy 159 lei
Century 21 Chris Bentley / Copertă tare
common.buy 143 lei
Albert Hall Lenore Coltheart / Carte broșată
common.buy 225 lei
Die Arterio-Ven sen Anastomosen Max Clara / Carte broșată
common.buy 349 lei
Last Cowboys John Branch / Copertă tare
common.buy 123 lei
Analysis and Modeling of Faces and Gestures S. Kevin Zhou / Carte broșată
common.buy 320 lei
Auf Der Suche Nach Der Bilanzwahrheit Carl Zimmerer / Carte broșată
common.buy 349 lei
Controversies in Innocence Cases in America Sarah Lucy Cooper / Copertă tare
common.buy 948 lei
Advanced Intelligent Computing Theories and Applications De-Shuang Huang / Carte broșată
common.buy 560 lei
Heresy and Obedience in Tridentine Italy Dermot Fenlon / Carte broșată
common.buy 284 lei
Blauwassersegeln Manual Barry Pickthall / Copertă tare
common.buy 99 lei
Maintaining Health Formerly Health and Efficiency R. L. Alsaker / Carte broșată
common.buy 218 lei

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Informații despre carte

Titlu complet CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Limba engleză
Legare Carte - Carte broșată
Data publicării 2014
Număr pagini 194
EAN 9781107408326
ISBN 1107408326
Codul Libristo 02439020
Greutatea 27
Dimensiuni 152 x 229 x 10
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo