Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent...
Descrierea completă
Codul Libristo: 02060485
?
334 b
334 b
672
lei
În depozitul extern
Expediem în 14-18 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
287
lei
/
Copertă tare
812
lei
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
Informații despre carte
Titlu complet
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2009
Număr pagini
194
EAN
9781605111285
ISBN
1605111287
Codul Libristo
02060485
Editura
Materials Research Society
Greutatea
430
Dimensiuni
160 x 236 x 14
