Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Serviciul de curierat Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei FAN Courier 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier Sameday 24.00 lei Curier DPD 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Name: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01651105
Price: 853.11 RON
Availability: InStock
Author: Martin Schmidbauer
ISBN: 9783642057694

Martin Schmidbauer

Limba

engleză

Carte Carte broșată

Codul Libristo: 01651105

Editura Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, decembrie 2010

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scatter... Descrierea completă

Codul Libristo: 01651105

394 b

853.11 lei

În depozitul extern Expediem în 5-8 zile

Până la 30 de zile pentru returnare

Clienții au cumpărat de asemenea

Tři přednášky o gnozi Jan Kozák

Carte broșată

26.83 lei

Moeglichkeiten zur Gestaltung verbindlicher Telekooperation Moritz Strasser

Carte broșată

287.07 lei

Pero gelové Pentel EnerGel BL407 - černé 0,7mm v dárkové krabičce

Articole de papetărie

56.28 lei

Großmutters Kräuterapotheke Renate Dittus-Bär

Carte broșată

61.80 lei

Histoire de l'Archiduc Albert ( 1693 ) Anonymious

Carte broșată

153.57 lei

Gog Giovanni Papini

Carte broșată

94.47 lei

Codex Diplomaticus Brandenburgensis, Herausg. Von A.F. Riedel Brandenburg Electorate

Carte broșată

163.56 lei

Aux Poilus ! Contre La Demoralisation Edouard Poulain

Carte broșată

85.31 lei

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.