Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Serviciul de curierat Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei FAN Courier 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier Sameday 24.00 lei Curier DPD 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Name: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01558645
Price: 853.11 RON
Availability: InStock
Author: Martin Schmidbauer
ISBN: 9783540201793

Martin Schmidbauer

Limba

engleză

Carte Copertă tare

Codul Libristo: 01558645

Editura Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, ianuarie 2004

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scatter... Descrierea completă

Codul Libristo: 01558645

394 b

853.11 lei

În depozitul extern Expediem în 10-13 zile

Până la 30 de zile pentru returnare

Clienții au cumpărat de asemenea

Schritt für Schritt MIT LINKS ins Glück, m. 1 Karte Frank Steinkopf

Copertă tare

124.33 lei

Zwang der Zwanglosigkeit - Das Gesprach und seine Regeln in der Salonkonversation des 17. Jahrhunderts Melanie Bitterberg

Carte broșată

89.68 lei

Nie mehr Fleisch! Manuela Gruber

Carte broșată

198.52 lei

Artes marciais e adolescentes: Cynthia de Freitas Melo

Carte broșată

198.00 lei

System der Medusen Haeckel Ernst Haeckel

Carte broșată

138.90 lei

Efectividad del heberprot-p® en pacientes diabéticos tratados Esther Catalá

Carte broșată

198.00 lei

Um Sol ao Dia Edmar Camara

Carte broșată

57.01 lei

Esprit critique, esprit scientifique Farina

Carte broșată

186.97 lei

MEX Das mündliche Examen - Bildgebende Verfahren in der Medizin Jörg Wilhelm Oestmann

Carte broșată

152.32 lei

Aspekte der Globalisierung Carl Baudenbacher

Copertă tare

245.45 lei

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.