Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Limba englezăengleză
Carte Carte broșată
Carte VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability Laung-Terng Wang
Codul Libristo: 12234203
Editura MORGAN KAUFMANN PUBL INC, iunie 2006
? points 272 b
549 lei
șansă 50% Şanse de a obține acest titlu Când primesc cărțile?

30 de zile pentru retur bunuri


Ar putea de asemenea, să te intereseze


Boys of 1812 James Russell Soley / Copertă tare
common.buy 157 lei
I've Been Called Adam L. Bond / Carte broșată
common.buy 81 lei
Beitrage Zur Urchristlichen Theologiegeschichte Wolfgang Kraus / Copertă tare
common.buy 1.971 lei
Splendor Lucis - Kabbala I Aloysio Wienner / Copertă tare
common.buy 155 lei

Informații despre carte

Titlu complet VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Limba engleză
Legare Carte - Carte broșată
Data publicării 2006
Număr pagini 808
EAN 9781493300860
ISBN 1493300865
Codul Libristo 12234203
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo