Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Limba
engleză
engleză
Carte
Carte broșată
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VL...
Descrierea completă
Codul Libristo: 21144360
?
460 b
460 b
925
lei
În depozitul extern în cantități mici
Expediem în 10-15 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
178
lei
/
Carte broșată
181
lei
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
Informații despre carte
Titlu complet
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Autor
S. Jayanthy, M. C. Bhuvaneswari
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Carte broșată
Data publicării
2018
Număr pagini
156
EAN
9789811347849
ISBN
9811347840
Codul Libristo
21144360
Editura
Springer Verlag, Singapore
Greutatea
454
Dimensiuni
155 x 235 x 10
