Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrat...
Descrierea completă
Codul Libristo: 01424413
?
318 b
318 b
639
lei
În depozitul extern în cantități mici
Expediem în 10-15 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
639
lei
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
Informații despre carte
Titlu complet
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2011
Număr pagini
212
EAN
9781441982964
ISBN
1441982965
Codul Libristo
01424413
Editura
Springer-Verlag New York Inc.
Greutatea
518
Dimensiuni
155 x 235 x 17
