Nu se pretează? Nu contează! Puteți returna produsele în până la 30 de zile
Cu un voucher cadou nu veți da greș. În schimbul voucherului, destinatarul își poate alege orice din oferta noastră.
Până la 30 de zile pentru returnare
Terrestrial neutron-induced soft errors of semiconductor memory devices are currently a major concern in reliability issues. Understanding the mechanism and quantifying soft-error rates are primarily crucial for the design and quality assurance of semiconductor memory devices. This book covers the relevant up-to-date topics in terrestrial neutron-induced soft errors, and aims to provide succinct knowledge on neutron-induced soft errors to the readers by presenting several valuable and unique features.
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?