Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei

Surface Threshold Displacement Energy Measurement of Silicon

Limba englezăengleză
Carte Carte broșată
Carte Surface Threshold Displacement Energy Measurement of Silicon J J Barnes
Codul Libristo: 08281680
Editura Biblioscholar, februarie 2013
The Office of Scientific & Technical Information (OSTI), is a part of the U.S. Department of Energy... Descrierea completă
? points 157 b
317 lei
În depozitul extern Expediem în 14-18 zile

30 de zile pentru retur bunuri


Ar putea de asemenea, să te intereseze


The Office of Scientific & Technical Information (OSTI), is a part of the U.S. Department of Energy (DOE) that houses research and development results from projects funded by the DOE. The information is generally an article, technical document, conference paper or dissertation. This is one of those publications.

Informații despre carte

Titlu complet Surface Threshold Displacement Energy Measurement of Silicon
Autor J J Barnes
Limba engleză
Legare Carte - Carte broșată
Data publicării 2013
Număr pagini 28
EAN 9781288824335
ISBN 9781288824335
Codul Libristo 08281680
Editura Biblioscholar
Greutatea 68
Dimensiuni 189 x 246 x 2
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo