Livrare gratuită pentru comenzile de peste 349 LEI prin Easybox, FAN BOX și Coletăria.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Serviciul de curierat Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier DPD 25.00 lei FAN Courier 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile de peste 349 LEI prin Easybox, FAN BOX și Coletăria.

Superconductor/Semiconductor Junctions

Name: Superconductor/Semiconductor Junctions
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01563549
Price: 575.87 RON
Availability: InStock
Author: Thomas Schäpers
ISBN: 9783540422204

Thomas Schäpers

Limba

engleză

Carte Copertă tare

Codul Libristo: 01563549

Editura Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, ianuarie 2001

This book describes superconductor/two-dimensional-electron-gas (2DEG) structures with the aim of pr... Descrierea completă

Codul Libristo: 01563549

263 b

575.87 lei

În depozitul extern Expediem în 10-13 zile

Până la 30 de zile pentru returnare

Clienții au cumpărat de asemenea

Técnicas de segmentación de mercados César Pérez López

Carte broșată

144.87 lei

Matematyka a fizyka Maurin Krzysztof

Carte broșată

131.74 lei

This book describes superconductor/two-dimensional-electron-gas (2DEG) structures with the aim of providing a better understanding of their transport properties. The two-dimensional electron gas used for the structures described here is buried either in a III-V semiconductor heterostructure or in an inversion layer at the surface. First, the properties of a single superconductor/2DEG structure are discussed on the basis of Andreev reflection and the proximity effect. Then, the properties of superconductor/2DEG Josephson junctions are treated. The last part of the book discusses the control of junctions using gate electrodes or injection currents, and the physical effects observed in these junctions.