Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
Limba
engleză
engleză
Carte
Carte broșată
Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of th...
Descrierea completă
Codul Libristo: 12371619
?
172 b
172 b
402 lei
▸
-14
%
346
lei
În depozitul extern
Expediem în 15-20 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the ca
Informații despre carte
Titlu complet
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Carte broșată
Data publicării
2015
Număr pagini
194
EAN
9781606507278
ISBN
1606507273
Codul Libristo
12371619
Editura
CAB INTL
Greutatea
268
Dimensiuni
152 x 229 x 10
