Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
Semiconductor Memory Testing
Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's
engleză
121 b
30 de zile pentru retur bunuri
Clienții au cumpărat de asemenea
Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using expensive off-chip testers for embedded memory testing have forced system designers to introduce on-chip Memory Built-in Self Test (MBIST) techniques to generate, apply, read and compares test patterns in order to expose subtle defects of SRAM''s. The book discusses in detail the various fault models and test requirements associated with embedded SRAM s in today s System-On-Chip s and focuses on the implementation of testing algorithms for embedded SRAMs in the MBIST engine. The book also discusses a finding where failure analysis and silicon debug required an update to the algorithms and pattern backgrounds implemented in the MBIST.
Informații despre carte
engleză
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
515.43
lei
/
Carte broșată
285.96
lei
/
Copertă tare
1 306.93
lei
/
Carte broșată
285.96
lei
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?