Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei

Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires

Limba englezăengleză
Carte Carte broșată
Carte Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires Stephan Pröller
Codul Libristo: 01668601
Editura Grin Publishing, octombrie 2011
Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language:... Descrierea completă
? points 135 b
271 lei
În depozitul extern Expediem în 15-20 zile

30 de zile pentru retur bunuri


Ar putea de asemenea, să te intereseze


Risk factors of dehydration among elderly in Egypt Mustafa Shaban / Carte broșată
common.buy 263 lei
Coleopterorum catalo gus 55 S. Schenkling / Carte broșată
common.buy 146 lei
Ethique de la Recherche Et Des Essais Cliniques Boucif Debab-Z / Carte broșată
common.buy 215 lei
Organized Uncertainty Michael Power / Carte broșată
common.buy 240 lei
Schau her - ich brauche keine Windel mehr Julia Volmert / Cărți pliante
common.buy 36 lei
Concepts in Law and Economics Jim Leitzel / Copertă tare
common.buy 325 lei

Bachelor Thesis from the year 2011 in the subject Physics - Other, grade: 1,0, LMU Munich, language: English, abstract: In this thesis the InAs(111)B surface and III-V semiconductor nanowires are investigated using scanning tunneling microscopy and spectroscopy. The morphology of InAs nanowires grown without gold particle is studied. Radial nanowire heterostructure such as InP core with InAs shell are analyzed and the wurtzite {10-10} top facet is identified. Furthermore nanowire heterostructures with an InP core and InAs shell with induced stacking faults possibly giving rise to quantum dots, which could be used as quantum dot lasers or for quantum information processing, are investigated. A model is obtained based on morphology analysis and as top facet the wurtzite {10-10} and{11-20} are found. Furthermore stacking faults on top of a nanowire are seen.The analysis of the InAs(111)B surface shows the hexagonal pattern. Defects are determined to occur due to missing In atoms in the first layer. Spectroscopy next to those defects indicated no influence on the local electronic structure.

Informații despre carte

Titlu complet Scanning Probe Microscopy of InAs/InP Nanowires
Limba engleză
Legare Carte - Carte broșată
Data publicării 2011
Număr pagini 64
EAN 9783656010494
ISBN 3656010498
Codul Libristo 01668601
Editura Grin Publishing
Greutatea 95
Dimensiuni 148 x 210 x 4
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo