Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
Scanning Electron Microscopy
engleză
321 b
30 de zile pentru retur bunuri
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
213.89
lei
/
Carte broșată
101.56
lei
Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.
Informații despre carte
engleză
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
552.43
lei
/
Copertă tare
174.32
lei
/
Copertă tare
695.86
lei
/
Carte broșată
30.16
lei
/
Carte broșată
106.68
lei
