Nu se pretează? Nu contează! Puteți returna produsele în până la 30 de zile
Cu un voucher cadou nu veți da greș. În schimbul voucherului, destinatarul își poate alege orice din oferta noastră.
Până la 30 de zile pentru returnare
Explains the theoretical and experimental foundations of the measurement of the electrical properties of the MOS system and the technology for controlling its properties. Emphasizes the silica and the silica-silicon interface. Provides a critical assessment of the literature, corrects incomplete or incorrect theoretical formulations, and gives critical comparisons of measurement methods. Contains information needed to grow an oxide, make an MOS capacitor array, and fabricate an integrated circuit with optimal performance and stability.
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?