Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
Materials Reliability in Microelectronics VII: Volume 473
engleză
64 b
Curând
Termenul este necunoscut
Până la 30 de zile pentru returnare
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
168.11
lei
/
Carte broșată
182.41
lei
/
Carte broșată
89.33
lei
The inexorable drive for increased integrated circuit functionality and performance places growing demands on the metal and dielectric thin films used in fabricating these circuits, as well as spurring demand for new materials applications and processes. This book directly addresses issues of widespread concern in the microelectronics industry - smaller feature sizes, new materials and new applications that challenge the reliability of new technologies. While the book continues the focus on issues related to interconnect reliability, such as electromigration and stress, particular emphasis is placed on the effects of microstructure. An underlying theme is understanding the importance of interactions among different materials and associated interfaces comprising a single structure with dimensions near or below the micrometer scale. Topics include: adhesion and fracture; gate oxide growth and oxide interfaces; surface preparation and gate oxide reliability; oxide degradation and defects; micro-structure, texture and reliability; novel measurement techniques; interconnect performance and reliability modeling; electromigration and interconnect reliability and stress and stress relaxation.
Informații despre carte
engleză
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
211.74
lei
/
Carte broșată
57.62
lei
/
Carte broșată
864.41
lei
/
Carte broșată
849.80
lei
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?