Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei

Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Limba englezăengleză
Carte Carte broșată
Carte Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science Sarah Fearn
Codul Libristo: 10836619
Editura Morgan & Claypool Publishers, octombrie 2015
The study of dark matter, in both astrophysics and particle physics, has emerged as one of the most... Descrierea completă
? points 106 b
214 lei
În depozitul extern Expediem în 14-18 zile

30 de zile pentru retur bunuri


Ar putea de asemenea, să te intereseze


top
Creative Confidence DAVID KELLEY AND TOM / Carte broșată
common.buy 65 lei
top
Heal Your Body Louise L. Hay / Carte broșată
common.buy 60 lei
top
Three Little Pigs DK / Cărți pliante
common.buy 69 lei
The Magicians Nephew Clive Staples Lewis / Carte broșată
common.buy 41 lei
Story of China Michael Wood / Carte broșată
common.buy 60 lei
Crazy Rich Asians Kevin Kwan / Carte broșată
common.buy 44 lei
Dark Knight Returns Slipcase Set Frank Miller / Copertă tare
common.buy 215 lei
Cinema of Terrence Malick 2e Hannah Patterson / Carte broșată
common.buy 157 lei
Dear White People Justin Simien / Copertă tare
common.buy 95 lei
Sports of Santa Cruz County Geoffrey Dunn / Carte broșată
common.buy 116 lei
Inverse Problems in Physical Diagnostics Konstantin P. Gaikovich / Copertă tare
common.buy 624 lei

The study of dark matter, in both astrophysics and particle physics, has emerged as one of the most active and exciting topics of research in recent years. This book reviews the history behind the discovery of missing mass (or unseen mass) in the Universe, and ties this into the proposed extensions to the Standard Model of Particle Physics (such as Supersymmetry), which were being proposed within the same time frame. This book is written as an introduction to these problems at the forefront of astrophysics and particle physics, with the goal of conveying the physics of dark matter to beginning undergraduate majors in scientific fields. The book goes onto describe existing and upcoming experiments and techniques, which will be used to detect dark matter either directly on indirectly.

Informații despre carte

Titlu complet Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Autor Sarah Fearn
Limba engleză
Legare Carte - Carte broșată
Data publicării 2015
Număr pagini 66
EAN 9781681740249
ISBN 9781681740249
Codul Libristo 10836619
Greutatea 192
Dimensiuni 177 x 256 x 8
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo