Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
High-Speed Probe Card Analysis
Using Real-time Machine Vision and Image Restoration Technique
engleză
91 b
Până la 30 de zile pentru returnare
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
71.05
lei
/
Carte broșată
29.97
lei
/
Carte broșată
160.47
lei
/
Carte broșată
133.91
lei
/
Carte broșată
110.78
lei
/
Carte broșată
116.38
lei
/
Carte broșată
218.36
lei
Probe cards represent an indispensable component in wafer testing processes. Due to their frequent contacts with wafer pads, the physical condition of probe cards needs to be closely monitored and analyzed to maintain the integrity of testing. This paper proposes a new vision-based probe card analysis technique that can be applied to a situation where the vision system is continuously running to take moving images for fast inspection. The approach taken in this paper is to operate the machine vision in time synchrony with the position sensing and to restore the blurred pixel data with the image restoration technique. The main concepts are demonstrated using an experimental test bed and a commercial probe card. Compared to the existing stop-and-go approach, the proposed technique can substantially enhance the inspection speed without additional cost for major hardware change.
Informații despre carte
engleză
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
58.08
lei
/
Copertă tare
188.17
lei
/
Copertă tare
1 736.03
lei
/
Carte broșată
56.84
lei
/
Carte broșată
567.54
lei
/
Carte broșată
155.70
lei
/
Carte broșată
906.86
lei
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?