Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures
engleză
232 b
Până la 30 de zile pentru returnare
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
62.45
lei
The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.
Informații despre carte
engleză
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
118.59
lei
/
Carte broșată
387.22
lei
/
Carte broșată
53.32
lei
/
Copertă tare
120.14
lei
/
Carte broșată
408.60
lei
/
Carte broșată
274.02
lei
/
Copertă tare
773.31
lei
