phone 031 22 95 182
LIBRISTO 0
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei
phone Contact phoneCum să cumpăr

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Limba englezăengleză
Carte Copertă tare
Carte Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations Ronald G. Reifenberger
Codul Libristo: 03611606
Editura World Scientific Publishing, noiembrie 2015
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements... Descrierea completă
? points 337 b
679 lei
În depozitul extern Expediem în 14-18 zile

30 de zile pentru retur bunuri

Ar putea de asemenea, să te intereseze

Velvet Volume 3: The Man Who Stole The World Ed Brubaker / Carte broșată
common.buy 69 lei
Lebensstucke Anna Croissant-Rust / Carte broșată
common.buy 127 lei
Wordsworth, Commodification, and Social Concern David Simpson / Copertă tare
common.buy 455 lei
Failsafe Control Systems K. Warwick / Carte broșată
common.buy 324 lei
Mormonism Unveiled John Doyle Lee / Carte broșată
common.buy 154 lei
disponibilidad lexica en estudiantes de educacion media Tibisay Lamus / Carte broșată
common.buy 237 lei
History And Constitution Of The Courts And Legislative Authorities In India Herbert Cowell / Carte broșată
common.buy 114 lei
Jukes-Edwards A Study in Education and Heredity A. E. Winship / Carte broșată
common.buy 130 lei
Hybridization of Somatic Cells Boris Ephrussi / Carte broșată
common.buy 247 lei
Behavior and Its Causes T. L. Smith / Carte broșată
common.buy 1.270 lei
Capital Markets in the Development Process John H. Welch / Carte broșată
common.buy 324 lei
Meaning of Ludwig von Mises Jeffrey M. Herbener / Carte broșată
common.buy 1.270 lei
Road to Grace Richard Paul Evans / Carte broșată
common.buy 86 lei
Story of Garfield Farm-boy, Soldier, and President William G. Rutherford / Carte broșată
common.buy 130 lei
Managing the Olympics Stephen Frawley / Copertă tare
common.buy 755 lei

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of s

Informații despre carte

Titlu complet Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Autor Ronald G. Reifenberger
Limba engleză
Legare Carte - Copertă tare
Data publicării 2015
Număr pagini 340
EAN 9789814630344
ISBN 9789814630344
Codul Libristo 03611606
Editura World Scientific Publishing
Greutatea 614
Dimensiuni 158 x 238 x 23

Categorii

Mathematics & Science > Science: general issues > Nanosciences
Technology, Engineering, Agriculture > Technology: general issues > Nanotechnology
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu
Parolă uitată

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo