Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Serviciul de curierat Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei FAN Courier 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier DPD 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Forensic Analysis on the Cutting Edge - New Methods for Trace Evidence Analysis

Name: Forensic Analysis on the Cutting Edge - New Methods for Trace Evidence Analysis
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 04893300
Price: 1019.16 RON
Availability: InStock
Author: Robert D. Blackledge
ISBN: 9780471716440

Robert D. Blackledge

Limba

engleză

Carte Copertă tare

Codul Libristo: 04893300

Editura John Wiley & Sons Inc, august 2007

This title brings forensic scientists and chemists up-to-date on the latest instrumental methods for... Descrierea completă

Codul Libristo: 04893300

472 b

1 019.16 lei

șansă 50% Şanse de a obține acest titlu Când primesc cărțile?

Până la 30 de zile pentru returnare

Clienții au cumpărat de asemenea

Kärntner Seen Helmut Lang

Carte broșată

84.36 lei

This title brings forensic scientists and chemists up-to-date on the latest instrumental methods for analysing trace evidence, including mass spectrometry, image analysis, DIOS-MS, ELISA characterization, statistical validation, and others.* Illustrates comparative analysis of trace evidence by both old and new methods.* Explains why some newer methods are superior to older, established methods.* Includes chapters on analysis of DNA, ink, dyes, glitter, gun powder traces, condom trace evidence, footwear impressions, toolmark impressions, surveillance videos, glass particles, and dirt.* Discusses applications such as mass spectrometry, image analysis, desorption-ionization on silicon mass spectrometry (DIOS-MS), ELISA characterization, and statistical validation.