Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Electron Beam Testing Technology
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including i...
Descrierea completă
Codul Libristo: 01378051
?
488 b
488 b
982
lei
În depozitul extern în cantități mici
Expediem în 12-17 zile
30 de zile pentru retur bunuri
This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including introductory material, a guide to fundamentals, and an implementational section, the work will serve as a complete reference for both experienced practitioners as well as those unfamiliar with the technology.
Informații despre carte
Titlu complet
Electron Beam Testing Technology
Autor
John T.L. Thong
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
1993
Număr pagini
462
EAN
9780306443602
ISBN
0306443600
Codul Libristo
01378051
Editura
Springer Science+Business Media
Greutatea
2500
Dimensiuni
178 x 254 x 27
Categorii
Mathematics & Science
>
Physics
>
Materials / States of matter
>
Condensed matter physics (liquid state & solid state physics)
Mathematics & Science
>
Chemistry
>
Analytical chemistry
>
Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry
Technology, Engineering, Agriculture
>
Electronics & communications engineering
>
Electronics engineering
>
Electronics: circuits & components
