Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
engleză
131 b
30 de zile pentru retur bunuri
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
56.78
lei
/
Carte broșată
53.86
lei
/
Carte broșată
391.77
lei
/
Carte broșată
74.94
lei
Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.
Informații despre carte
engleză
Categorii
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
80.48
lei
/
Carte broșată
47.17
lei
/
Carte broșată
165.24
lei
/
Carte broșată
101.77
lei
/
Carte broșată
176.72
lei