Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Electromigration and Electronic Device Degradation
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the...
Descrierea completă
Codul Libristo: 04892340
?
740 b
740 b
1.490
lei
În depozitul extern
Expediem în 14-18 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an important reliability issue. This study reviews the topic for both the silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details, including an investigation of temperature dependence.
Informații despre carte
Titlu complet
Electromigration and Electronic Device Degradation
Autor
Christou
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
1994
Număr pagini
344
EAN
9780471584896
ISBN
0471584894
Codul Libristo
04892340
Editura
John Wiley & Sons Inc
Greutatea
656
Dimensiuni
164 x 239 x 25
Categorii
Technology, Engineering, Agriculture
>
Mechanical engineering & materials
>
Production engineering
>
Reliability engineering
Technology, Engineering, Agriculture
>
Electronics & communications engineering
>
Electronics engineering
>
Electronics: circuits & components
