Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
Efficient Test Data Compression and Fault Analysis in VLSI Circuits
engleză
105 b
Până la 30 de zile pentru returnare
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
36.89
lei
/
Carte broșată
302.12
lei
/
Carte broșată
70.78
lei
/
Carte broșată
89.33
lei
/
Carte broșată
61.25
lei
In higher order SOC (System On Chip) circuit, designs have led to drastic increase in test data volume. Larger test data size demands not only higher memory requirements, but also an increase in testing time. Test data compression addresses this problem by reducing the test data volume without affecting the overall system performance. In this, testable input data (test data) is generated by using Automatic test pattern generation (ATPG) then it is compressed and compressed data stored to memory. To test the particular circuit that time we will decompress the stored memory test data and then decompressed test data given to the Design Under Test (DUT). Finally DUT fault is tested and identified. It proposes a test compression technique using efficient dictionary selection and bitmask method to significantly reduce the testing time and memory requirements. This algorithm giving a best possible test compression of 92% when compared with other compression methods.
Informații despre carte
engleză
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
147.38
lei
/
Carte broșată
105.71
lei
/
Carte broșată
81.35
lei
/
Carte broșată
359.34
lei
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?