Nu se pretează? Nu contează! Puteți returna produsele în până la 30 de zile
Cu un voucher cadou nu veți da greș. În schimbul voucherului, destinatarul își poate alege orice din oferta noastră.
Până la 30 de zile pentru returnare
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.