phone 031 22 95 182
LIBRISTO 0
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei
phone Contact phoneCum să cumpăr

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Limba englezăengleză
Carte Copertă tare
Carte Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Manoj Sachdev
Codul Libristo: 01382200
Editura Springer-Verlag New York Inc., iunie 2007
The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms... Descrierea completă
? points 631 b
1.269 lei
În depozitul extern în cantități mici Expediem în 10-15 zile

30 de zile pentru retur bunuri

Ar putea de asemenea, să te intereseze

Současný český dřevěný dům - Výběr 1998-2006 / binding.
common.buy 45 lei
Nuts and Bolts of Paced ECG Interpretation Tom Kenny / Carte broșată
common.buy 589 lei
Nutritional Influences on Bone Health Peter Burckhardt / Copertă tare
common.buy 982 lei
Assessment of Manganese Nodule Resources United Nations / Copertă tare
common.buy 324 lei
Einkommensverteilung und Bevölkerungsentwicklung. Bernhard Felderer / Carte broșată
common.buy 346 lei
PERSONAL EFFECTIVENESS4 DVD SET ASH QUARRY PRODUCTI / Copertă tare
common.buy 3.124 lei
Gotteslob, Diözesanausgabe Bistum Fulda, Cabra schwarz / Copertă tare
common.buy 209 lei
Combinatorial Pattern Matching Paolo Ferragina / Carte broșată
common.buy 324 lei
The Liberalization of Capital Movements in Europe Age F.P. Bakker / Copertă tare
common.buy 585 lei
Dyadic Decision Making David Brinberg / Copertă tare
common.buy 454 lei
Handbuch Wärmebehandeln und Beschichten Günter Spur / Copertă tare
common.buy 1.402 lei
Gesundheitsressourcen und Arbeitsbelastungen der mittleren Fuhrungsebene des Pflegemanagements Yasmin Choudhary / Carte broșată
common.buy 462 lei
Elton John for Ukulele Elton John / Carte broșată
common.buy 85 lei

The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without the insight into the physics of nano-metric technologies, it would be hard to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. Obviously, the work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.

Informații despre carte

Titlu complet Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Limba engleză
Legare Carte - Copertă tare
Data publicării 2007
Număr pagini 328
EAN 9780387465463
ISBN 0387465464
Codul Libristo 01382200
Editura Springer-Verlag New York Inc.
Greutatea 694
Dimensiuni 155 x 235 x 24

Categorii

Technology, Engineering, Agriculture > Electronics & communications engineering > Electronics engineering > Electronics: circuits & components
Technology, Engineering, Agriculture > Technology: general issues > Engineering: general
Technology, Engineering, Agriculture > Technology: general issues > Technical design
Technology, Engineering, Agriculture > Energy technology & engineering > Electrical engineering
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu
Parolă uitată

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo