Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactl...
Descrierea completă
Codul Libristo: 18184965
?
273 b
273 b
564 lei
▸
-2
%
548
lei
În depozitul extern
Expediem în 11-13 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
206
lei
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.
Informații despre carte
Titlu complet
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Autor
Selahattin Sayil
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2017
Număr pagini
93
EAN
9783319696720
ISBN
3319696726
Codul Libristo
18184965
Greutatea
339
Dimensiuni
155 x 235 x 11
