Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15 lei
Easybox 20 lei
Cargus 25 lei
FAN 25 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
031 22 95 182
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry - Principles and Applications
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry...
Descrierea completă
Codul Libristo: 02514784
?
363 b
363 b
731
lei
În depozitul extern în cantități mici
Expediem în 12-17 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
This book describes the importance of the emerging technique Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), which is used for the analysis of a range of solid materials, including everything from organic and polymeric materials, to cells and semiconductors. The text covers a wide range of topics, encompassing fundamentals, theory, and applications including cluster sources, organic and polymeric depth profiling, and 3-D imaging in organic and polymeric materials. Written by founders in the field, this guide creates a peerless compendium of knowledge on this cutting edge set of methods.
Informații despre carte
Titlu complet
Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry - Principles and Applications
Autor
Christine M. Mahoney
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2013
Număr pagini
368
EAN
9780470886052
ISBN
0470886056
Codul Libristo
02514784
Editura
John Wiley & Sons Inc
Greutatea
762
Dimensiuni
243 x 165 x 21
