phone 031 22 95 182
LIBRISTO 0
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299 lei
Packeta 15 lei Easybox 20 lei Cargus 25 lei FAN 25 lei
phone Contact phoneCum să cumpăr

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Limba englezăengleză
Carte Carte broșată
Carte Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces Weronika Walkosz
Codul Libristo: 01427604
Editura Springer-Verlag New York Inc., mai 2013
This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides...
? points 318 b
639 lei
În depozitul extern în cantități mici Expediem în 12-17 zile

30 de zile pentru retur bunuri

Ar putea de asemenea, să te intereseze

Die Verachtung der Massen Peter Sloterdijk / Carte broșată
common.buy 43 lei
Marina Tsvetaeva Simon Karlinsky / Carte broșată
common.buy 309 lei
Requirements Engineering Lars Nielsen / Carte broșată
common.buy 225 lei
Addicted to Chinese food Turone Green / Carte broșată
common.buy 91 lei
Rigby Star Guided 2 White Level: The Singing Princess Pupil Book (single) Judy Waite / Carte broșată
common.buy 68 lei
Constructing and Applying Objective Functions Andranik S. Tangian / Carte broșată
common.buy 639 lei
Arbeitszeitrecht in der Weimarer Republik. Sabine Bischoff / Carte broșată
common.buy 302 lei
Physiologische und morphologische Auswirkungen amorpher Diatomeenerden auf ausgewahlte vorratsschadliche Insekten Inga Mewis / Carte broșată
common.buy 696 lei
CHAMPION 2 LIVRE DU PROFESSEUR Annie Monnerie-Goarin / Carte broșată
common.buy 136 lei
Rousseau, Law and the Sovereignty of the People Ethan Putterman / Copertă tare
common.buy 677 lei
Der Untermieter - komplette Serie, 1 Blu-ray Angela Hillner / DVD
common.buy 135 lei

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Informații despre carte

Titlu complet Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces
Autor Weronika Walkosz
Limba engleză
Legare Carte - Carte broșată
Data publicării 2013
Număr pagini 110
EAN 9781461428572
ISBN 1461428572
Codul Libristo 01427604
Editura Springer-Verlag New York Inc.
Greutatea 203
Dimensiuni 155 x 235 x 8

Categorii

Mathematics & Science > Chemistry > Analytical chemistry > Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry
Mathematics & Science > Science: general issues > Scientific equipment, experiments & techniques
Mathematics & Science > Physics > Nuclear physics
Mathematics & Science > Chemistry > Physical chemistry
Technology, Engineering, Agriculture > Industrial chemistry & manufacturing technologies > Industrial chemistry & chemical engineering
Technology, Engineering, Agriculture > Mechanical engineering & materials > Materials science
Technology, Engineering, Agriculture > Civil engineering, surveying & building > Structural engineering
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu
Parolă uitată

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo