Nu se pretează? Nu contează! La noi puteți returna bunurile în 30 de zile
Cu un voucher cadou nu veți da greș. În schimbul voucherului, destinatarul își poate alege orice din oferta noastră.
30 de zile pentru retur bunuri
Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on AFM techniques.