Contact
Cum să cumpăr
Livrare
Consilier de cumpărături
engleză
394 b
30 de zile pentru retur bunuri
Clienții au cumpărat de asemenea
/
Carte broșată
138.66
lei
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography.§Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy. The fundamental underlying physics principles are examined, in addition to data reconstruction and visualization, statistical data analysis methods and specimen preparation by electropolishing and FIB-based techniques. A full description of the local electrode atom probe a new state-of-the-art instrument is also provided, along with detailed descriptions and limitations of laser pulsing as a method to field evaporate atoms. Valuable coverage of the new ionization theory is also included, which underpins the overall technique.§
Informații despre carte
engleză
Categorii
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinataruluiAr putea de asemenea, să te intereseze
/
Carte broșată
355.34
lei
/
Carte broșată
87.55
lei
Bună ziua! Sunt Libroamiko, consilierul dumneavoastră de cărți.
Cu ce vă pot ajuta?