Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Serviciul de curierat Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei FAN Courier 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier Sameday 24.00 lei Curier DPD 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Atom-Probe Field Ion Microscopy

Name: Atom-Probe Field Ion Microscopy
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02018080
Price: 387.8 RON
Availability: InStock
Author: Tien T. Tsong
ISBN: 9780521019934

Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution

Tien T. Tsong

Limba

engleză

Carte Carte broșată

Codul Libristo: 02018080

Editura Cambridge University Press, septembrie 2005

Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces wi... Descrierea completă

Codul Libristo: 02018080

180 b

387.80 lei

În depozitul extern Expediem în 9-15 zile

Până la 30 de zile pentru returnare

Clienții au cumpărat de asemenea

ARANKA Brigitte Bork

Copertă tare

104.51 lei

Max et Lili veulent rester en vacances SAINT MARS (DE)

Copertă tare

49.04 lei

Akce K Petr Blažek

Copertă tare

131.27 lei

Puglia

Carte broșată

157.60 lei

Joker - L'Homme qui cessa de rire ROSENBERG Matthew

Copertă tare

253.10 lei

Konzervy se slovy Petr Szczepanik

Copertă tare

74.44 lei

Resentimiento y Apocalipsis : ensayo sobre el antisemitismo nazi Philippe Burrin

Carte broșată

110.94 lei

Des Moyens Pratiques de Ramener A Ses Limites Naturelles La Mortalite Du Premier Age En France Mayer-A

Carte broșată

74.96 lei

Konstruktion Und Implementierung Von Schulprogrammen - Ein Triangulativer Forschungsansatz Michaela Köller

Carte broșată

492.74 lei

Marketing Fur Die Generation X Klaus Scherer

Carte broșată

208.62 lei

OEkonomik Der Warmeenergien Karl Schmidt

Carte broșată

292.20 lei

Blitzschutzsysteme. Tl.1 Jürgen Wettingfeld

Carte broșată

178.13 lei

Vom Glück, mit der Natur zu leben Edith Holden

Copertă tare

94.76 lei

Irregular verbs - nejužívanější anglická nepravidelná slovesa Petr Kupka

Foaie

5.17 lei

Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, and at the same time of chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. Field ion microscopy has been successfully used to study most metals and many alloys, and recently good field ion images of some semiconductors and even ceramic materials such as high temperature superconductors have been obtained. Although other microscopies are capable of achieving the same resolution, there are some experiments unique to field ion microscopy - for example the study of the behaviour of single atoms and clusters on a solid surface. The elegant development of the field ion microscope with the atom probe has provided a powerful and useful technique for highly sensitive chemical analysis. This book presents the basic principles of atom-probe field ion microscopy and illustrates the various capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution. A useful comparison is given with two related techniques, electron microscopy and scanning tunnelling microscopy. The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.