Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei FAN 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier Sameday 24.00 lei Curier DPD 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01420517
Price: 601.65 RON
Availability: InStock
Author: Patrick Girard
ISBN: 9781441909374

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Patrick Girard

Alberto Bosio

Luigi Dilillo

Limba

engleză

Carte Copertă tare

Codul Libristo: 01420517

Editura Springer-Verlag New York Inc., octombrie 2009

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing... Descrierea completă

Codul Libristo: 01420517

277 b

601.65 lei

În depozitul extern în cantități mici Expediem în 13-18 zile

30 de zile pentru retur bunuri

Clienții au cumpărat de asemenea

El Filosofo Amigo Robert Crosbie

Copertă tare

158.88 lei

Wolframio

Carte broșată

108.31 lei

Quarteto Fantástico: Ensino de Física e Satisfação Cultural Francisco de Assis Nascimento Junior

Carte broșată

247.49 lei

La consultation avec l'enfant Pierre Delion

Carte

227.79 lei

Astronomie Populaire, Description Generale Du Ciel. Tome 2 Camille Flammarion

Carte broșată

171.49 lei

Les Celebracions dominicals en absència de prevere

Carte broșată

152.20 lei

irresistible caida del muro de Berlin Fernando Villaverde

Carte broșată

132.81 lei

Um casamento muito especial Liz Fielding

Adobe ePub DRM

17.19 lei

De dokter en de dood Lia van Zuylen

Adobe ePub DRM

371.66 lei

Chinese Short Stories for Beginners (Part 1) Qing Qing Jiang

Carte broșată

216.22 lei

A gyermekek játéka és ami mögötte van Kerekes Valéria

Copertă tare

45.34 lei

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.