Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Verifică starea comenzii

Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje Creați-vă un cont gratuit

Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 349.00 lei

Packeta 15.00 lei Serviciul de curierat Cargus 28.00 lei Easybox 20.00 lei FAN Courier 20.00 lei Punct FAN 16.00 lei Punct DPD 17.00 lei Curier DPD 25.00 lei

Contact

Cum să cumpăr

Ajutor

Contul meu

▸ Gol :-(

Livrare gratuită pentru comenzile peste 349,00 lei.

Practical Guide to Surface Metrology

Name: Practical Guide to Surface Metrology
Brand: Springer Nature Switzerland AG
SKU: 37026987
Price: 555.33 RON
Availability: InStock
Author: Michael Quinten
ISBN: 9783030294564

Michael Quinten

Limba

engleză

Carte Carte broșată

Codul Libristo: 37026987

Editura Springer Nature Switzerland AG, august 2021

This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered optical and non... Descrierea completă

Codul Libristo: 37026987

257 b

555.33 lei

În depozitul extern Expediem în 5-8 zile

Până la 30 de zile pentru returnare

Clienții au cumpărat de asemenea

Dead by Daylight Plush Figure The Trapper 22 cm Joc / Jucărie

Jucărie

230.71 lei

Automatische Modellierung von Waldlandschaften fur virtuelle Welten und mobile Roboter Arnold Bücken

Carte broșată

318.60 lei

Die Legende von Korra 4 Michael Dante DiMartino

Carte broșată

43.63 lei

Validation clinique d'un questionnaire d'abus-dépendance au cannabis Philippe Arvers

Carte broșată

143.75 lei

Dottrine nascoste nel libro di Mormon. Volume 5.: Alma 1 parte. Come funziona il lavoro missionario. Massimo Giuseppe Franceschini

Carte broșată

56.79 lei

OEko-Energie in Deutschland M Dengl

Carte broșată

50.47 lei

Eläinratavaloa Kimmo Leijala

Copertă tare

84.98 lei

Immer Wenn Ich Glücklich Bin Hochsteinberg Echo

Audio CD

86.74 lei

This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered optical and non-optical systems used for the metrology and characterization of surfaces, including guidance on best practice, calibration, advantages and disadvantages, and interpretation of results. It enables the user to select the best approach in a given context.Most methods in surface metrology are based upon the interaction of light or electromagnetic radiation (UV, NIR, IR), and different optical effects are utilized to get a certain optical response from the surface; some of them record only the intensity reflected or scattered by the surface, others use interference of EM waves to obtain a characteristic response from the surface. The book covers techniques ranging from microscopy (including confocal, SNOM and digital holographic microscopy) through interferometry (including white light, multi-wavelength, grazing incidence and shearing) to spectral reflectometry and ellipsometry. The non-optical methods comprise tactile methods (stylus tip, AFM) as well as capacitive and inductive methods (capacitive sensors, eddy current sensors).